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介绍了IC可靠性对电子设备可靠性的影响及当前IC可靠性的局限性，阐述了故障预测的定义及详细介绍了“浴盆曲线”不同阶段的意义；从另一个角度介绍IC的可靠性，阐述了故障预测在集成电路设计中的价值。论述了故障预测在半导体设计中的应用问题，影响半导体器件寿命的因素。给出了静电损伤、热载流子、TDDB和NBTI等影响半导体器件寿命的故障预测方案。