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利用太赫兹时域光谱系统，测量了3种在硅衬底上淀积厚度为100nm金膜的椭圆环阵列结构后，并且分析了各样品在太赫兹波段的透射增强现象及产生机理．结果表明：在整个太赫兹波段，此组结构样品的透射系数均在0．68以上，产生明显的透射增强；当太赫兹波的偏振方向与椭圆环长轴之间的夹角为90°时，3个样品在1．67THZ处的共振峰是由于短轴方向的电子形成偶板子振荡与入射太赫兹波进行耦合产生的；夹角为0°时，周期阵列样品无明显共振峰，而分形阵列样品的共振峰则不如斑图阵列样品的明显；样品结构的对称性越差