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薄膜全耗尽SOIMOSFET单晶体管Latch效应
薄膜全耗尽SOIMOSFET单晶体管Latch效应
来源 :微电子学与计算机 | 被引量 : 0次 | 上传用户:pyking2003
【摘 要】
:
本文在详细分析各种不同条件下全耗尽MOSFET单晶体管Latch效应测试结果的基础上,较为详细地讨论了单晶体管Latch效应的物理机理,发现单管Latch效应与MOSFET的寄生双极晶体管有着极其密切的关系,最后还给出了
【作 者】
:
魏丽琼
程玉华
【机 构】
:
北京大学微电子学研究所
【出 处】
:
微电子学与计算机
【发表日期】
:
1995年2期
【关键词】
:
场效应晶体管
SOI
薄膜
Latch效应
单晶体管
LATCH
SOI
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本文在详细分析各种不同条件下全耗尽MOSFET单晶体管Latch效应测试结果的基础上,较为详细地讨论了单晶体管Latch效应的物理机理,发现单管Latch效应与MOSFET的寄生双极晶体管有着极其密切的关系,最后还给出了相应的改进措施。
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