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已有的数字电路自动测试生成（ATPG）软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型,RAM利用新建立的RAMBIT基元等效成利于测试的时序电路模型。将其应用于ATPG软件中,解决了含存储器数字电路的自动测试生成问题。