电子能量损失谱研究GaN的极性

来源 :电子显微学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：jyjlxy

【摘要】

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GaN材料可以发蓝光,具有非常重要的实际应用价值.GaN的结构分析中,确定各种畴的极性是非常重要的.在过去的研究中,对于GaN这类非中心对称极性晶体,主要利用会聚束电子衍射的

【作者】

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孔翔胡桂青段晓峰

【机构】

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中国科学院北京电子显微镜实验室

【出处】

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电子显微学报

【发表日期】

：

2002年5期

【关键词】

：

电子能量损失谱 GAN 极性氮化镓晶体结构分析畴非中心对称晶体

【基金项目】

：

国家自然科学基金

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GaN材料可以发蓝光,具有非常重要的实际应用价值.GaN的结构分析中,确定各种畴的极性是非常重要的.在过去的研究中,对于GaN这类非中心对称极性晶体,主要利用会聚束电子衍射的方法来测定极性[1].最近,N. Jiang等人利用通道效应对X-射线能量色散谱(EDS)强度的影响测定GaN的极性[2].但利用电子能量损失谱的方法研究晶体的极性目前尚不多见.

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