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存储器在SOC中所占的电路面积越来越大，因此存储器的正确与否影响着SOC芯片的成品率。存储器中的故障种类繁多，单一的测试方法不能保证所有故障的100％覆盖率。文章通过对广泛应用的March算法的分析，提出了一种可重配置的存储器测试方法。在该方法中通过设置一组控制寄存器就可以灵活地实现各种March算法。另外，采用资源复用的方法，在嵌入式微处理器核中增加了一个有限状态机、几个控制寄存器和几条专门用于存储器测试的指令，可以方便地实现各种March算法，并且硬件开销非常小。