IGBT模块热应力下的分层失效分析

来源 :电子元件与材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户：zhanghai_007

【摘要】

：

利用ANSYS有限元分析软件,分析了在温度循环条件下没有焊层裂纹缺陷的IGBT模块和有焊层裂纹缺陷的IGBT模块的应力和应变分布。仿真结果表明:热应力主要集中在芯片和焊层接触的四个边角处以及芯片和塑封体接触的四个边角处。当纳米银焊层有裂纹缺陷时,在裂纹尖端处会出现应力集中现象,增大焊层所受的应力值;温度从低温增加到室温时,裂纹尖端的应力值和形变量随着温度的升高而减小,应力值从41.074 MPa减小到1.594 MPa,形变量从0.0197 mm减小到0.0074 mm;温度从室温增加到高温时,裂纹尖端的

【作者】

：

刘江文杨道国

【机构】

：

桂林电子科技大学机电工程学院

【出处】

：

电子元件与材料

【发表日期】

：

2021年9期

【关键词】

：

有限元分析纳米银应力可靠性裂纹

【基金项目】

：

广西自然科学基金重点项目(2017GXNSFDA198006)。

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