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利用显微光谱、X荧光光谱、光电子能谱、色泽分析和场发射电子扫描显微分析，对凹印用铜金粉的表面理化性能进行了研究，结果表明，国产铜金粉的表面锌含量明显偏低，Cu（1）与Cu（0）的比例与进口铜金粉之间也存在差异；从而导致其反射光谱、表面理化性质方面与进口铜金粉存在显著差别，宏观上表现为国产和进口铜金粉的色泽存在差异，揭示了国产铜金粉与进口铜金粉品质差距的主要原因。