基于图着色理论的阵列天线校正方法

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由于受环境变化影响,大规模平面相控阵天线收发通道的幅相一致性会发生偏移,常常需要标校才能保证其正常工作,但目前阵列天线收发通道数量较多,校正过程复杂,而且费时费力。基于图着色理论提出一种阵列天线快速校正方法,将校正时隙分配转化为图论中的着色问题,通过最小化时隙着色提高每个校正时隙的复用率,以降低阵列通道校准次数,达到缩短全阵列校正时间目的。仿真表明,对正六边形、正方形和正三角形平面阵列,分别最多仅需要8个、9个和16个时隙就可完成全阵列校正。
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