【摘 要】
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随着现代超大规模集成电路设计、制造工艺的快速发展,芯片的测试与验证所需的费用也越来越高.针对这个问题,本文提出了一种数字芯片的功能验证方案,该方案充分利用了PC机的丰
【机 构】
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中国科学院声学研究所,中国科学院声学研究所
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随着现代超大规模集成电路设计、制造工艺的快速发展,芯片的测试与验证所需的费用也越来越高.针对这个问题,本文提出了一种数字芯片的功能验证方案,该方案充分利用了PC机的丰富资源和数据采集系统的强大功能,有效地降低了数字芯片功能验证的成本.作者成功地运用该方案对一个百万门级的DSP&CPU芯片进行了功能验证,实际应用证明,该方案使用灵活、可靠,并且可以大幅降低芯片验证所需的费用,为数字芯片的功能验证提供了可以借鉴的有效方案.
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