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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域.提出了一种新的成像方法,在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,基于非线性的重建成像算法,具有扫描速度快、算法简单、实时性高等特点,适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测.