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TQ171/O431 94032261从1992年 SPIE 国际会议看国外光学工艺与检测的发展新动向[刊,中]/曹天宁(浙江大学)∥光学技术.—1993,(4).—30~37介绍 SPIE 会议发表的论文概况,尤其对光学工艺与检测技术作了叙述.比如非球面加工技术与设备、超光滑光学表面的制造与检测、测量面形的数字