微波磁介质和固体电介质材料的介电常数和损耗的测试方法

来源 :磁性材料及器件 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gougou316
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一、引言在微波频段测量ε′和tanδ一般采用短路波导法和谐振腔法等。这两种方法各有优缺点及其适用范围。一般来说,测较大的损耗角正切的样品宜采用短路波导法;而测小损耗角正切(tanδ<10~(-2))的样品则多采用谐振腔法。实际上小损耗测 I. INTRODUCTION Measuring ε ’and tanδ in microwave frequency band generally adopts short-circuit waveguide method and cavity method. Both of these methods have their own advantages and disadvantages and their applicability. In general, the larger loss tangent samples should be short-wave guide method; and small loss tangent (tan δ <10 -2) samples are more using the resonant cavity method. In fact, small loss test
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