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古代建筑琉璃构件釉层的厚度通常在130μm左右，因此难以将釉层剥离下来进行分析测试。目前，尚不见有关制备琉璃釉校准参考样品的报道，且很难找到与琉璃釉基体接近的标样进行定量分析。为此，在研制建筑琉璃校准参考样品的基础上，建立了用能量色散X射线荧光谱仪（EDXRF）无损测定琉璃釉料主、次量元素的分析方法，并对元素分析线在琉璃釉层中的饱和厚度问题，方法的检测限、精密度等问题进行了讨论。结果表明，所建立的无损测试方法可满足对琉璃釉主、次量元素测定的要求，为今后测试研究古代建筑琉璃构件釉料的元素组成特征打下基础。