超磁致伸缩材料性能测量实验

来源 :物理实验 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ty532215014

【摘要】

：

采用比较法和电桥法测量了Terfenol—D样品的磁致伸缩系数，并采用共振法测量了Terfenol—D样品的磁机械耦合系数．将超磁致伸缩材料特性测量实验引入本科实验教学，可以使学生在近

【作者】

：

陈宜保王文翰杨翔何元金王合英孙文博

【机构】

：

清华大学物理系

【出处】

：

物理实验

【发表日期】

：

2008年12期

【关键词】

：

超磁致伸缩材料磁致伸缩系数磁机械耦合系数 gaint magnetostrictive material magnetostrictive coeffic

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

采用比较法和电桥法测量了Terfenol—D样品的磁致伸缩系数，并采用共振法测量了Terfenol—D样品的磁机械耦合系数．将超磁致伸缩材料特性测量实验引入本科实验教学，可以使学生在近代物理实验课程的学习中接触到材料科学研究前沿领域的技术与知识，有助于提高学生的创新意识和创新能力，激发学生的学习兴趣．

其他文献

用氦制冷机测量纯铜低温热导率

在纯铜低温热导率测量实验中原有实验装置利用液氮充当冷源，只能测量78K到室温的纯铜的热导率．新的装置改用氦制冷机，其测温范围的低温端可延伸至9K．测量结果的不确定度为3％．

期刊

低温热导率制冷机纯铜low temperature thermal conductivity helium refrigerator pure Cu

玻片厚度对迈克耳孙干涉仪干涉条纹的影响

探讨了在迈克耳孙干涉仪反射镜M2前加入不同厚度的玻片，对干涉条纹级数变化的影响．实验表明，对于不同的反射镜M2到透镜的距离，改变反射镜M2前玻片的厚度，存在干涉条纹的疏密变化从

期刊

迈克耳孙干涉仪玻片厚度干涉条纹临界位置Michelson interferometer glass thickness interference s

用CMOS线阵图像传感器测量透明材料的折射率

将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合，提出了自动测量透明材料折射率的方法．介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法．采用曲线

期刊