热辐射体真实温度的测试研究

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在辐射测温中,普遍存在一个问题:被测温度物体表面发射率影响很大,而物体的发射率很难准确测量,这是因为发射率不仅与材料有关,而且还与波长、温度、表面状态(表面粗糙度、氧化程度等)有关.本文叙述一种利用多波长辐射法测量实际物体真实温度的方法.该方法利用最小二乘法原理拟合出实际热辐射体的光谱发射率曲线,从而使测量目标的真实温度成为可能.
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