论文部分内容阅读
为加速测试进程和减少测试开销，数字集成电路在生成测试矢量后必须进行故障测试集的优化。文中利用粒子群优化算法生成最小完备测试集，根据故障测试集优化问题的具体特点，构造粒子的表达方式和编码规则，建立粒子群的速度一位置模型；同时为提高优化效率，引入混沌优化算法来初始化粒子群。实验结果表明，在测试生成后，该方法能在较短的时间内生成最小完备测试集，验证了它的实用性和有效性。