基于模拟的故障注入技术在高可靠处理器的应用

来源 :微电子学与计算机 | 被引量 : 0次 | 上传用户：shuiqianzeqing

【摘要】

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高可靠处理器在设计过程中,需要在不同阶段采用适当的故障注入技术,对其可靠性进行验证和评估.以LEON3高可靠处理器中的TMR（Triple Module Redundancy）flip-flop为例,使用基于

【作者】

：

魏方巍刘海南黑勇

【机构】

：

中国科学院微电子研究所

【出处】

：

微电子学与计算机

【发表日期】

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2012年8期

【关键词】

：

高可靠性设计 LEON3 TMR 故障注入 high reliability desigm LEON3 TMR fault injection

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高可靠处理器在设计过程中,需要在不同阶段采用适当的故障注入技术,对其可靠性进行验证和评估.以LEON3高可靠处理器中的TMR（Triple Module Redundancy）flip-flop为例,使用基于模拟的故障注入技术对高可靠处理器进行故障注入.通过实验表明,采用此类故障注入技术,可以在设计前期对加固设计的可靠性进行快速验证,缩短开发周期,降低验证成本.

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