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采用扫描电镜（SEM）和电子背散射衍射（EBSD）技术，原住测量了Ni-W合金在不同应变状态下的晶体学参数，包括Kikuchi花样质量（IQ值）及可信度（CI）、晶格错配、晶界类型、晶粒尺寸和织构。采用快速傅立叶变换（FFT）对菊池花样进行了处理，并计算其衍射强度。当Ni-W的应变量增加到1.57倍，Kikuchi花样的衍射强度降低到54％，从而导致IQ和CI值减小，允差角（Fit）和位错密度增大。结果表明IQ、CI、Fit及晶格错配可作为应变敏感参数，评价多晶材料中的应力和应变状态。