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期刊论文
半导体器件的预辐射技术
半导体器件的预辐射技术
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hellring
【摘 要】
:
本文介绍一种半导体器件预辐射技术,这种技术可将半导体器件的辐射损伤消除,使器件的性能参数恢复到辐射前的水平。这种技术被应用于半导体器件加固保证的筛选和被辐射器件性
【作 者】
:
郭树田
【机 构】
:
四川固体电路研究所
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
1990年3期
【关键词】
:
半导体器件
预辐射技术
生产工艺
Semiconductor device
Pre-radiation technique
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本文介绍一种半导体器件预辐射技术,这种技术可将半导体器件的辐射损伤消除,使器件的性能参数恢复到辐射前的水平。这种技术被应用于半导体器件加固保证的筛选和被辐射器件性能衰降的精确预测,是加固半导体器件研制生产中的一种早期技术,但目前也有现实意义。
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