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目的：新建一个“优势模式（ｆａｖｏｒｅｄ ｐａｔｔｅｒｎ，ＦＰ）”快速检测法，用以检测不同神经元放电串中之ＦＰ，并检验其效果。方法：在原有的“改进的ＦＰ检测法”的基础上，采用数种措施实现快速检测，并用多个指标检验其检测效果。结果：（１）具有３种不同程度变动的各种模拟ＦＰ的检出阈均为２，表明该法敏感；（２）自发放电串中各个ＦＰ重复出现时，其全长和所含不同放电间隔长度之变异系数分别为５％和１７％，均小于检测所规定的容差，表明该法可靠；（３）自发放电串中ＦＰ长时间稳定地存在，而诱发放电串中不同ＦＰ的总数随放电