论文部分内容阅读
利用高温熔融制备硅石、硅砖样品，应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、A1203、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线，研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例，脱膜剂加入量对制样重现性的影响，探讨了采用差量法计算所得结果的准确性。实验结果表明，该方法的测定值与标准认定值一致，相对标准偏差小于5％，满足了硅石中常见组分快速分析的要求。