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研究了pH值和CPAM的加入量对浆料Zeta电位以及瓦楞原纸物理性能的影响。结果表明：随着浆料pH值的下降，Zeta电位负值逐渐变小，瓦楞原纸的裂断长和环压指数呈现先增大再减小的趋势；在Zeta电位为-12.4mV时，裂断长及环压指数达到最大值。随着CPAM加入量的增加，浆料Zeta电位不断提高，裂断长呈现上升趋势，而环压指数则呈现先下降后上升趋势。