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随着闪存（Flash）应用日益广泛，对其失效模式的分析也成为一个重要挑战。本文主要介绍了Flash的基本操作，包括编程、擦除、读操作，并对Flash工作原理作了说明。此外，本文研究了Flash的几种典型常见的失效模式，如擦除中出现的失效、列漏电失效和干扰失效，通过失效原理、失效测试、失效影响等方面对这几种失效模式作了简要分析，其分析方法对Flash的测试有一定的实用价值。