厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰

来源 :集成电路通讯 | 被引量 : 0次 | 上传用户：w13857464643

【摘要】

：

介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序，总结了在生产与使用中发现的主要失效模式，对失效机理进行了研究，提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。

【作者】

：

【机构】

：

中国兵器工业第214研究所

【出处】

：

集成电路通讯

【发表日期】

：

2006年1期

【关键词】

：

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

研究用溅射法制作CrSi电阻中，工艺技术与工艺参数间的相互关系，给出了高方阻，低温度系数CrSi薄膜电阻制备的方法，及其工艺条件的确定。

期刊

溅射工艺CrSi电阻TCR

本文分析了51单片机定时器溢出中断与CPU响应中断的时间误差，并给出了补偿误差的方法和实例，简单介绍了单片机系统中的定时与中断的基本概念。

期刊

单片机定时器响应中断时间误差

本文介绍了利用单片机来实现模拟开关电路测量的测试台设计与制作，实测结果表明，该测试台不但提高了测量精度和测量效率，而且大大提高了测量的客观性。该测试系统对于改进目前的

期刊