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通过分析37Ar衰变产生的X射线和俄歇电子在内充气正比计数管灵敏体积中的逃逸及计数管在37Ar活度测量中的壁效应，得出X射线在正比计数管中的逃逸是产生壁效应的主要原因，提出了压力指数外推方法。使用MCNP模拟X射线和俄歇电子在内充气正比计数管中的输运，模拟结果与理论分析结论一致。比较模拟得出的壁效应值与实验测量的壁效应值可知，实验给出的壁效应值是可信的。本工作的研究结果为37Ar测量方法提供了理论支持。