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量子效率是电荷耦合器件(CCD)最主要的参数之一，针对目前CCD器件量子效率定标需求，提出了一种均匀光辐射法测量CCD器件量子效率方法，并对系统的不确定度进行了评定，得到系统的扩展不确定度为3.6%。同时选用CCD器件对系统扩展不确定度进行验证。实验结果表明，在300~1100 nm波长范围内，选用的三个波长点最大的重复性为0.42%，因此说明系统的不确定度分析是合理的。该系统完全可以满足目前CCD器件量子效率测量需求,对生产厂家及使用单位具有重要的使用意义。