可测性设计的发展

来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：aizhuan

【摘要】

：

<正> 可测性设计(DFT),在现有的测试方法越来越不能满足电路不断加大密度和复杂性的情况下,逐渐发展起来了。DFT技术是在芯片上建立相应的测试结构,以满足芯片自身及PC板测试

【作者】

：

杨静玲

【机构】

：

清华大学微电子学研究所

【出处】

：

国外电子测量技术

【发表日期】

：

1994年4期

【关键词】

：

可测性设计测试表面安装技术

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<正> 可测性设计(DFT),在现有的测试方法越来越不能满足电路不断加大密度和复杂性的情况下,逐渐发展起来了。DFT技术是在芯片上建立相应的测试结构,以满足芯片自身及PC板测试的需要。接触板上安装的极小间距的表面安装 (SMT器件的管脚去测试所在的板是极其困难的。边界扫描可以用来解决这类问题。在器件级,通过外加激励去测试整个电路变

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