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相较于ASIC芯片测试而言,FPGA芯片在进行测试时往往会在难度和复杂情况上有一定的增加,本文主要针对于此设计了有关面向于FPGA芯片开发方面的测试方法,并进行详细的阐述以实现对于该芯片的检测。
面向FPGA芯片开发的测试方法设计与实现
【摘 要】
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相较于ASIC芯片测试而言,FPGA芯片在进行测试时往往会在难度和复杂情况上有一定的增加,本文主要针对于此设计了有关面向于FPGA芯片开发方面的测试方法,并进行详细的阐述以实
【机 构】
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杭州数腾科技有限公司
【出 处】
：
电脑迷
【发表日期】
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2016年2期
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