基于单片机的芯片检测仪的设计

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在高校的教学实验环节中,TTL系列和CMOS系列数字集成芯片损毁率很高,本文采用AT89C51单片机设计了集成芯片测试系统,成本低,易操作,可对芯片进行检测,看能否继续使用,对实验教学效果有很大的帮助。
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