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PMOSFET‘s热载流子退化模拟及寿命评估的统一模型
PMOSFET‘s热载流子退化模拟及寿命评估的统一模型
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:q525456781
【摘 要】
:
对PMOSFET's几种典型器件参数随应力时间的退化规律进行了深入研究,给出了一个新的器件退化监控量,并建立了不同器件参数退化的统一模型。模拟结果和测量结果的比较表明,新
【作 者】
:
张进城
郝跃
朱志炜
【机 构】
:
西安电子科技大学微电子研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2001年12期
【关键词】
:
PMOSFET
热载流子退化
退化模拟
寿命评估
场效应晶体管
PMOSFET'shotcarrierinduced degradationdegrad
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对PMOSFET's几种典型器件参数随应力时间的退化规律进行了深入研究,给出了一个新的器件退化监控量,并建立了不同器件参数退化的统一模型。模拟结果和测量结果的比较表明,新的退化模型具有较高的准确性和较宽的适用范围。新的退化模型不但可以用于器件参数退化量的模拟,也可以用于器件寿命评估。
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