【摘 要】
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超快集成电路能够产生用普通方法不能测量的电脉冲,这就向研制这种电路的工程师提出了一个难题。现在贝尔实验室的J.Valdmanis已找到一种解决方法。他发明一种电光测量技术,
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超快集成电路能够产生用普通方法不能测量的电脉冲,这就向研制这种电路的工程师提出了一个难题。现在贝尔实验室的J.Valdmanis已找到一种解决方法。他发明一种电光测量技术,分辨率为0.3ps,这比目前广泛用于快速电测量的取样示波器快上百倍。Valdmanis利用光学相互作用具有极高速度的特
Ultra-fast integrated circuits produce electrical impulses that can not be measured by conventional methods, posing a challenge to engineers developing such circuits. Now J.Valdmanis of Bell Labs has found a solution. He invented an electro-optic measurement technique with a resolution of 0.3ps, which is a hundredfold faster than the sampling oscilloscope that is widely used today for rapid electrical measurements. Valdmanis utilizes the very high speed of optical interactions
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