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为解决工业摄影测量系统基准尺校准中的逆反射标志中心精确定位问题,提出了一种基于显微视觉和图像处理的圆形逆反射标志中心定位方案。介绍了中心定位系统的组成及原理,根据逆反射标志的反光特性及其在显微镜下的图像特征,分析了图像预处理、特征提取以及标志中心定位的图像处理方法。对可能影响标志中心定位结果的图像放大倍率、标志图像在视场中的位置、照明等因素进行了试验分析,对规范基准尺校准过程有重要意义。