基于约束谱聚类的印刷套准状态识别

来源 :包装工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户：beijiqie123

【摘要】

：

目的针对实际生产中获取印刷标志图像标签成本较高的问题,研究基于约束谱聚类的印刷套准状态识别方法。方法基于少量有标签的样本,建立样本之间的must-link约束和cannot-link约束,并进行约束扩展。计算印刷标志图像样本点欧式空间相似度矩阵,并根据扩展后约束关系修正,构建样本点的特征向量空间。采用K-means方法对样本点特征向量空间进行2类聚类,即印刷套准图像和印刷套不准图像。结果文中方法在

【作者】

：

简川霞贺鑫陈鑫舒治鹏贺凯帆

【机构】

：

广东工业大学机电工程学院,广州 510006

【出处】

：

包装工程

【发表日期】

：

2021年01期

【关键词】

：

印刷套准谱聚类约束扩展

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