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本论文结合白光光弹法与光谱仪发展出创新的低双折射性物质应力量测理论一穿透率极值光弹理论（Transmissivity extremities theory of photoelasticity, TEToP）。基于薄膜干涉原理，本论文也发展出创新的大范围面积全局性厚度量测理论——角度射入干涉术（Angular incidence interferometry, AII）。