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提出一种利用BP神经网络获取平面光学元件面形偏差的方法．该方法先确定一幅干涉条纹图像测试区域中条纹弯曲量和条纹间距，然后对BP神经网络进行训练，最后获取被测平面光学元件的光圈数．通过与Zygo激光干涉仪的测量结果进行比较，发现两者的测量结果相吻合。实验结果表明，该方法不仅可以增强处理干涉条纹图像的适应性，而且可以提高测量精度．