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目的：通过对配备RFID标签的标准体模进行核磁成像，评估RFID标签在高磁场下应用的安全性。方法：基于标准的Magphan体模，通过在不同距离放置不同封装类型的13．56M无源RFID标签，对体模在1．5T核磁下成像，从两方面进行RFID在高磁场下应用安全性的验证：一方面对获取的MR图像，测量图像的信号、噪声水平、均匀度、高对比度分辨率和几何失真度，量化评价RFID标签对MR成像质量是否存在影响；另一方面对经过扫描试验的RFID标签进行读识别，检查高磁场是否影响标签的正常工作。结果：临近成像区域的RFID