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1会议背景和意义第74届IEC大会及IEC部分技术委员会（TC）、分技术委员会（SC）和工作组（WG）会议于2010年10月4日至16日在美国西雅图召开,其中IEC/TC65（工业过程测量、控制和自动化）的顾问组会议（AG）、SC65B/WG5温度工作组会议、SC65B/WG6测试与评估工作组会议于10月7日～15日召开。