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用自建的适合厚片材料测量的介电测试系统研究了不同组分含量的PZT/P(VDF(77)-TrFE(23))0-3型铁电复合物厚片介电系数的电场和温度依赖性,在低电场和室温附近的温度范围,由Bruggeman方程预测的介电系数和实验值较为接近。Yamada模型通过退极化场系数Lz的变化,可拟合复合物介电系数的电场和温度依赖关系。结果显示Lz随电场的升高而降低,随温度的改变(升温、降温过程)而与复合物介