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在K2ZrF6-Na2SiO3-(NaPO3)6电解液中研究了电压(420~510V)对TC4合金表面微弧氧化(MAO)的影响。通过扫描电镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)及拉伸试验机表征了膜层的微观形貌、相组织、元素组成和结合强度,用傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR)测试了它们的红外发射率。结果表明:随着电压的升高,膜层厚度、粗糙度和结合强度均增大;膜层的主要相组成为TiO2,Si、Zr、P元素分别以SiO2、ZrO2、NaH2PO4与Na4P2O7的形式存在。膜层的红外