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用磁控溅射的方法制备得到FeXCu1-X纳米颗粒膜，并系统研究了它的R-I特性（电阻-电流特性）。实验发现随着纳米颗粒膜的厚度、铁铜含量比和退火条件的改变，R-I特性将发生明显的变化，表明测量电流的大小对纳米颗粒膜的结构和性质有不可忽视的影响。基于较大测量电流导致的阻温特性和薄膜的部分晶化效应，对实验现象进行了相应的讨论。