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目的通过时程及量效研究观察不同剂量X射线照射对EL-4和J774A.1细胞株中表面分子CD2、CD48的影响.方法采用荧光免疫流式细胞术检测蛋白表达的变化.结果 (1)EL-4细胞CD2分子表达结果显示,0.075 Gy X射线照射后CD2合成在照射后4 h即开始升高,至8～16 h达峰值(P＜0.05～0.01),2 Gy照射后则从照射后4 h开始下降,至8 h达最低点(P<0.01),一直持续较低至48 h恢复;8 h量效结果显示,在低剂量区0.050,0.075 Gy使CD2表达上调,而高剂量范围中1,2 Gy使CD2表达下调.(2)J774A.1细胞CD48分子表达结果显示,0.075 Gy X射线照射后CD48合成在照射后2 h即开始升高,至4 h达峰值(P<0.05),随后急剧下降,8 h恢复至假照射水平,16～48 h下降明显低于假照射水平(P<0.05),2 Gy照射后则从照射后2 h开始下降,至8 h达最低点(P<0.01),随后有所恢复,但直至48 h仍未能恢复至假照射水平.4 h量效结果显示,在低剂量区0.050,0.075,0.100 Gy使CD48表达上调,而高剂量范围中1～6 Gy均使CD48表达下调(P<0.05～0.01).结论 X射线照射可引起CD2、CD48不同的辐射效应,两者的相互作用体现出低剂量辐射具有不同于高剂量辐射的兴奋效应.