用光学技术探测MEMS的性能

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一种基于光压和干涉的激励/探测方法可表征微电机械系统(MEMS)万向反射镜阵列的特性.这种全光技术除能精确地完成非接触式的工艺监控,也使远距离操作微光电机械系统成为可能.
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