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交流伺服电机轴上往往加装光电编码器测量电机转子的位置以实现速度和位置闭环控制。光电编码器存在与分辨率相关的量化误差,在零速附近的范围内,量化误差造成测量死区和控制死区,影响系统的控制性能。在对测量死区的机理进行分析的基础上,提出采样周期优化方法,即在低速范围内增加采样周期时间来减少测量死区和控制死区。在模型机实验研究中将采样周期规划为在2 000～20r/min速度范围内,速度环采样周期为0.5ms,在20～10r/min速度范围内,速度环采样周期为1ms,在10～0r/min速度范围内,速度环采样