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通过在超薄金属层上蒸镀C60时的电阻原位测量,我们发现在平均厚度的一个C60单层范围内样品电阻有明显可观测的变化,电阻变化的方向和幅度与金属层厚度以及金属材料的种类有关。这一新的现象揭示出有可能利用宏观物理性质测量来间接研究C60-金属界面相互作用,从而对常规微观谱测量的结果给出旁证和补充。