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目的
评估全外显子测序在儿童神经发育障碍中的诊断价值。
方法方法学评价。对2015年12月至2016年12月间首都儿科研究所附属儿童医院门诊和病房收治的35例不明原因神经发育障碍患儿，收集患儿临床资料，运用全外显子测序技术进行检测，完成遗传病因诊断。利用多种生物信息学软件分析测序数据，结合患儿的表型寻找潜在致病基因/基因组变异，根据美国医学遗传学与基因组学学会的基因变异解读指南完成变异致病性评估，同时利用Sanger测序、Real-time PCR、MLPA方法完成患者验证及家系成员的分离分析。
结果35例不明原因的神经发育障碍患儿中，检测出致病性单核苷酸变异(SNVs)14个、致病性基因组拷贝数变异(CNVs)3个，检出率为48.6%。14例致病性SNVs中，11例是OMIM中有明确致病基因的综合征(如CHARGE综合征、Wiedemann-Steiner综合征、Cockayne综合征等)，其中新生变异共6个，占54.6%(6/11)。利用全外显子测序数据筛选出了3个致病性CNVs，包括2个微重复和1个微缺失。同时，还发现一例携带MECP2移码变异的女性患儿，其父亲精子DNA携带该位点的低频细胞嵌合体变异，变异频率为8.4%。
结论全外显子测序对儿童神经发育障碍的病因诊断率可达48.6%，全外显子测序数据除了检测出致病性/可能致病性的SNVs，还可以筛选出致病性CNVs，从而有效提高疾病诊断率。(中华检验医学杂志，2017, 40：623-629)