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采用一种新的测试方法不接触电极测聚丙烯（PP）、聚酰亚胺（PI）薄膜的相对电容率（εr）和介质损耗因数（tanδ）。对不接触电极两种测量方法可行性进行验证。对测试过程中影响介质损耗因数（tanδ）主要因素——静电进行分析，并采用两种方法消除其影响，确保测试数据准确。
不接触电极测试薄膜的相对电容率和介质损耗因数技术研究
【摘 要】
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采用一种新的测试方法不接触电极测聚丙烯（PP）、聚酰亚胺（PI）薄膜的相对电容率（εr）和介质损耗因数（tanδ）。对不接触电极两种测量方法可行性进行验证。对测试过程中影响介质损耗因数
【机 构】
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桂林电器科学研究所
【出 处】
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绝缘材料
【发表日期】
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2006年3期
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