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通过对传统磁调制时间差型直流漏电流传感器的分析,提出了一种基于单片机(MCU,Microprogrammed Control Unit)控制检测的性能改善方案。该方案采用单片机控制全桥结构以驱动磁回路,单片机检测磁调制产生的时间差值信号,并实现电路的零磁通反馈控制。电路工作在单电源下,可以适应较宽的电源电压变化。实验电路获得了较高的测试精度。