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考虑某类正则微分算予的带权第二特征值上界估计的问题。利用试验函数、分部积分、Rayleigh定理和不等式等方法与技巧，得到了用正则微分算子的第一个特征值来估计第二个特征值的不等式，其估计系数与区间的几何度量无关。其不等式在物理学和力学中应用广泛．在微分方程的理论研究中起着重要的作用。
正则微分算子带权第二特征值的上界
【摘 要】
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考虑某类正则微分算予的带权第二特征值上界估计的问题。利用试验函数、分部积分、Rayleigh定理和不等式等方法与技巧，得到了用正则微分算子的第一个特征值来估计第二个特征值
【机 构】
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苏州市职业大学基础部
【出 处】
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科技信息
【发表日期】
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2010年29期
【基金项目】
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苏州市职业大学基金资助项目（2010SZDQ12）.
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