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采用二次离子质谱技术（ＳＩＭＳ）对煤及源岩中不同成熟度的镜质体、丝质体、沥青和笔石进行了详细研究。结果表明不同显微组分具有不同的ＳＩＭＳ谱图，反映出其化学组成和结构的差异性，且ＣＨ２＾＋／ＣＨ３＾＋参数变化趋势可以用来评价有机组分的热演化规律。同时说明ＳＩＭＳ技术是有机显微组分化学成分和结构研究的有效手段。